光電二極管IV測試設備簡介

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·   型號：KDT-MPPC

·  光源驅動電壓：2-11V

·   光源驅動電流：10-800mA

·  偏執(zhí)電壓：20-30V

·   pA 輸入電流：±1mA

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          光電二極管IV測試設備是用于評估光電二極管性能的關鍵工具，通過測量其電流-電壓（IV）特性曲線，可獲取驅動電流、正向壓降、光功率、閾值電流等核心參數

1、電壓掃描：SMU的通道1向光電二極管施加從負電壓到正電壓的掃描電壓。

2、電流測量：在每個電壓點下，通道1同時測量通過光電二極管的電流值。

3、光功率測量：光電二極管激發(fā)的光經積分球轉化為光電流，由通道2測量，并結合轉換系數計算光功率。

4、數據處理：軟件將測得的電壓、電流和光功率數據繪制成IV曲線，并提取關鍵參數。

電壓輸出測試

測試原理

20-30V 偏執(zhí)電壓掃描

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紫外APD 探測器

紫外APD 探測器是一款可200-1000nm 內置雪崩高壓和放大部分 放電檢測器。具備200nm-1000nm的響應波長范圍，-3dB帶寬 優(yōu)于10MHz，輸出信號范圍0- +3. 5VpP，輸出信號噪聲<10mVpp基底，結構緊促。

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光電二極管IV測試設備是用于精確測量光電二極管電流-電壓（IV）特性的專業(yè)儀器，其通過施加電壓并測量對應電流，繪制IV曲線以分析器件性能，是光電二極管研發(fā)、生產和質量控制中的關鍵工具。

20db增益射頻放大器系列是一款理想的高速脈沖放大器。帶寬DC-1.0GHz ，增益20dB，噪聲優(yōu)于5.0dB，阻抗50Ω特征阻抗匹配。雙極性信號輸出;

EBIC（電子束感生電流）探測增益控制設備是半導體材料與器件分析領域的關鍵工具，通過精確控制電子束與半導體相互作用產生的微弱電流信號，實現pn結定位、缺陷檢測及載流子擴散長度測量等功能。